最近遇到客戶在測(cè)試的過(guò)程中，點(diǎn)檢膜片后發(fā)現(xiàn)測(cè)試不準(zhǔn)，然后就自己重新校準(zhǔn)，校準(zhǔn)后還是測(cè)不準(zhǔn)，所以就認(rèn)為儀器設(shè)備不準(zhǔn)確。

       經(jīng)過(guò)詳細(xì)溝通，我們發(fā)現(xiàn)使用者是無(wú)法理解，用經(jīng)過(guò)匹配膜屬性調(diào)試后的設(shè)備點(diǎn)檢標(biāo)準(zhǔn)膜片厚度，膜片偏大的，這個(gè)問(wèn)題。

       回歸到原點(diǎn)，隔膜會(huì)變形這個(gè)是眾所周知的，所以我們測(cè)試的時(shí)候需要通過(guò)減少外界影響力從而減少對(duì)膜的壓縮變形，最終得到最接近膜厚度的真實(shí)值。

       因此我們?cè)跍y(cè)試鋰電隔膜的時(shí)候，所使用的設(shè)備是不能用正常測(cè)力的設(shè)備，需要匹配膜柔軟特性來(lái)調(diào)試。當(dāng)我們使用用匹配好的儀器去測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)膜片的時(shí)候，我們會(huì)發(fā)現(xiàn)，膜片的實(shí)測(cè)值會(huì)偏大。從而認(rèn)為設(shè)備儀器不準(zhǔn)。

       那我們應(yīng)該怎么正確判斷儀器是否測(cè)試不準(zhǔn)？有以下方法：

更換正常的原廠標(biāo)配測(cè)帽或者大圓弧測(cè)帽去點(diǎn)檢標(biāo)準(zhǔn)膜片，更換測(cè)帽后點(diǎn)檢，此時(shí)測(cè)出來(lái)得數(shù)據(jù)會(huì)與標(biāo)準(zhǔn)膜片一致或接近。（但是使用平面測(cè)帽不建議使用這種方法，因?yàn)槭謩?dòng)工作臺(tái)調(diào)平受限，需要專業(yè)人員試用）

       先將臺(tái)面清潔干凈，正確置零后，用三個(gè)不同厚度的標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行測(cè)試，如果測(cè)試出來(lái)得結(jié)果，多出來(lái)得數(shù)值都是一樣的，那么設(shè)備本身是沒(méi)有問(wèn)題的。不需要校準(zhǔn)。

       先將臺(tái)面清潔干凈，正確置零后，用標(biāo)準(zhǔn)膜片測(cè)試同一個(gè)點(diǎn)，幾個(gè)數(shù)值在0.3μm以內(nèi)，設(shè)備就是沒(méi)有問(wèn)題的。例如，測(cè)出來(lái)得數(shù)值是50.1μm、50.2μm、50.3μm，這樣可以判斷設(shè)備沒(méi)有問(wèn)題。如果測(cè)出來(lái)的數(shù)值50.1 μm、50.3μm 、50.5μm的話，這樣數(shù)值就是有問(wèn)題的。

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